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快速光谱分析仪CMS-2S
 波长范围:380-780nm(标准),200-1100nm(特殊选项)波长精度:±0.5nm色坐标准确度:±0.0015,±0.0005(标准A光源下)积分时间:0.1mS–20S杂散光:<0.015%(600n...

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产品介绍

 

波长范围:380-780nm(标准),200-1100nm(特殊选项)
波长精度:±0.5nm
色坐标准确度:±0.0015,±0.0005(标准A光源下)
积分时间:0.1mS–20S
杂散光:<0.015%(600nm),<0.03%(435nm)
光度线性:±0.5%
相关色温测量范围:1000~100000k
相关色温准确度:±0.3%(标准A光源下)

显色指数测量误差:±(0.3%±0.3)

快速电扫描,无机械磨损,稳定性好
以软件为核心,便于升级换代,可满足不同用户的需求
快捷方便的USB通讯接口,适用于各种PC电脑及WINDOWS操作系统
中英文测试报告规范,合理,便于国际交流

 

 

 

 

原理简述:

 

杂散光是所有光学仪器系统中固有的一种有害的非检测光,对仪器的测量精度影响很大。对于光谱检测仪器系统而言,杂散光的影响更加不

可忽略。在光谱仪中,杂散光是形成系统背景光谱的主要原因,若背景光谱较强,则可能影响到微弱光信号的检测,大大地降低系统的信噪比,同时会直接影响测量信号的准确度及单色性。
目前市场上大多数光谱仪制造商所提供的快速CCD光谱仪分光都采用平面光栅与多块聚光镜的组合,会产生极大的杂散光,对测量结果影响很大。创惠公司鉴于多年来,在高精度光谱仪领域研究和开发中积累的丰富经验研发的新一代CMS-2S快速光谱分析仪,采用世界先进的全息凹面衍射光栅和东芝高性能的线性CCD陈列探测器。优化了高性能CCD与全息凹面平场衍射光栅的匹配设计,通过求解关于不同像差项的非线性方程组来达到消除具体像差、补偿像面的目的,只需一个光学元件,很好的解决了大多数厂家对快速光谱仪测试过程中产生极大杂散光,使光学匹配更完美,系统所获得的光谱更纯,线性更好。
杂散光的控制远远达不到用全息凹面平场衍射光栅只需一个光学元件的超低效果。除了低杂散光,采用全息凹面平场衍射光栅对提高其热稳定性也有很好的帮助。在很宽的温度范围内测量结果几乎没有波长漂移,并且光谱谱峰有良好的保持效果。
CMS-2S快速光谱分析仪采用了目前国际先进的消光材料对光谱仪内部进行特殊消光处理,使整个系统的杂散光控制在0.015%以下,对提高色坐标的准确度起到了最关键的作用。